高低溫試驗(yàn)箱非散熱試驗(yàn)樣品的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱颂峁┮环N標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)程序，用以確定非散熱的電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品)在低溫貯存或使用的適應(yīng)性，試驗(yàn)樣品應(yīng)在低溫下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，試驗(yàn)持續(xù)時間通常從試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定時開始計(jì)算，本試驗(yàn)是將具有室溫的試驗(yàn)樣品放入溫度也為室溫的高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)，然后將試驗(yàn)箱的溫度調(diào)整到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級的溫度值，在試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，在改條件下暴露規(guī)定的持續(xù)時間，試驗(yàn)樣品通常處于不工作狀態(tài)下，本試驗(yàn)通常采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)，試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)，應(yīng)提供標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)規(guī)程所要求的溫度條件，可以用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻，為了限制輻射影響，箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗(yàn)溫差之差不應(yīng)該超過8%(按開爾文溫度計(jì)算)，且試驗(yàn)樣品不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。